ZEISS O-INSPECT duo

2-en-1 : Machine à mesurer et microscope

ZEISS O-INSPECT offre deux technologies en une seule machine : les grandes pièces telles que les circuits imprimés, les piles à combustible ou les batteries peuvent être à la fois mesurées et inspectées en haute résolution dans leur intégralité. La combinaison de la technologie de mesure 3D et de l'analyse microscopique augmente l'efficacité et économise de l'espace dans les laboratoires de qualité. ZEISS O-INSPECT duo est disponible dans la taille 8/6/3.

2-en-1 : Machine à mesurer et microscope

Mesures 3D rapides et précises - optiques et tactiles

Optique haute résolution avec logiciel d'inspection supplémentaire ZEISS ZEN core

Premier système multi-technologique de ZEISS

En tant que "microscope MMT", ZEISS O-INSPECT duo couvre deux applications essentielles dans le contrôle qualité : la mesure précise et l'inspection à haute résolution de grands ou de nombreux petits composants. L'appareil a également été spécialement conçu pour les applications nécessitant une combinaison de mesure dimensionnelle et d'inspection - y compris la segmentation, l'assemblage et le traitement d'images en couleur. Au lieu d'avoir à acquérir à la fois une MMT et un microscope, un seul appareil est nécessaire dans les laboratoires de qualité, ce qui permet d'économiser de l'espace et de réduire les coûts du système.
Découvrez tous les avantages de cette machine multifonctionnelle dans les domaines concernés.

Precise measurements – optical and tactile

METROLOGY

Mesures précises – optiques et tactiles

Haute précision pour les pièces plates et sensibles

ZEISS O-INSPECT duo est une machine de mesure multisensorielle qui impressionne par son optique haute résolution associée au capteur de balayage tactile ZEISS VAST XXT. Le capteur permet des mesures 3D rapides et précises en capturant un grand nombre de points de mesure en un seul mouvement.

Les pièces très petites ou sensibles peuvent être mesurées sans contact, avec une excellente précision et une réduction significative du temps de mesure grâce à la tête de mesure ZEISS VAST. Ceci est possible grâce à une haute résolution d'image et une fidélité d'image optimale, même dans les zones périphériques.

METROLOGY

Inspection et mesure de surface sur une seule machine

MMT aujourd'hui, microscope demain

En plus de contrôler les dimensions, de nombreuses pièces nécessitent également une inspection de surface. Là où auparavant deux appareils distincts étaient utilisés pour la mesure et l'inspection, ZEISS O-INSPECT duo propose désormais une solution 2-en-1. Grâce à la commande intuitive de l'appareil et au capteur de caméra couleur Discovery.V12 scout 160 c haute résolution de 5 MP avec objectif zoom 12x, les tâches d'inspection peuvent désormais également être réalisées sur l'appareil de mesure. En plus de l'utilisation habituelle avec le logiciel ZEISS CALYPSO, la machine peut également être utilisée pour des tâches de microscopie avec le logiciel de base ZEISS ZEN.

Surface inspection and measurement on one machine

MICROSCOPY

Our largest microscope

Inspecting large parts as a whole

Cutting up components is a thing of the past: The optical inspection of large workpieces such as PCBs, fuel cells or batteries is now possible in their entirety. This saves valuable resources and time as well as reducing sources of error caused by moving fragmented workpieces back and forth between different systems.

In addition to the inspection of large parts, ZEISS O-INSPECT duo is also suitable for the automated inspection of many small parts. This means that the measuring microscope only needs to be loaded once - the inspection itself is then carried out in a single step without changing the individual samples.

MICROSCOPY

High-resolution 5 MP color camera

Detecting defects accurately

While black and white images provide high contrast differences in measurement technology, color images offer an advantage in microscopic analysis: With 5-megapixel image resolution in color, even small defects are depicted clearly and enable precise inspection and evaluation. ZEISS O-INSPECT duo can be used with the familiar ZEISS ZEN core microscopy software.

Découvrez les fonctionnalités du ZEISS O-INSPECT duo

Large field of view with high image definition

The ZEISS Discovery.V12 scout 160 c camera sensor with 5 MP ensures a high resolution and enables the visualization of the smallest details and structures thanks to the 12x zoom. The large field of view of 16.,1 x 12 mm allows more information to be displayed per image. The color camera enables precise microscopic analysis and at the same time ensures consistently precise results in metrology thanks to the high resolution of 5 MP.

Illumination

The ring light is comprised of an outer and inner ring with white LEDs that can be individually controlled in 16 segments. The device also has a coaxial uplight and backlight, enabling the analysis of a variety of applications and workpieces.

Quick and precise 3D tactile measurements

ZEISS VAST XXT makes high-accuracy scanning possible by capturing a large number of measurement points in a single movement, providing accuracy from 1,5 µm + L/250 µm.

Large stage

The stage with 800 x 600 x 300 mm enables the measurement and inspection of large workpieces with up to 100 kg weight, without having to cut, destroy or machine them before measurement. Alternatively, several small parts can also be inspected automatically thanks to the large stage.

2 software products

ZEISS CALYPSO offers improved visualization options to save you time. CAD models can be displayed superimposed, and possible deviations (ACTUAL to TARGET) can be identified quickly. Thanks to a variety of options, ZEISS CALYPSO also offers the right tools for special requirements. ZEISS ZEN core is the counterpart for microscopy: In addition to classic imaging, the software suite also includes imaging, segmentation, analysis, and data connectivity tools for multi-modal microscopy in connected laboratory environments and production.

Professional and actionable reports

ZEISS PiWeb reporting offers one-click documentation and visualization of your measurement data, giving you useful insights into your parts and processes.

Des contrastes optimaux

En plus de l'éclairage coaxial et du rétroéclairage, ZEISS O-INSPECT duo propose également diverses options de contrôle pour l'éclairage annulaire. Les anneaux LED intérieurs et extérieurs peuvent être allumés et éteints séparément ou activés uniquement dans des segments individuels.

LED intérieures et extérieures

La lumière annulaire est composée de LED intérieures et extérieures de couleur blanche. La combinaison de LED intérieures et extérieures permet un éclairage maximal de votre pièce.

LED intérieures

La lumière de l’anneau intérieur augmente les contrastes dans la texture de la surface, conduisant à des améliorations telles qu’une meilleure mise au point – pour des résultats de mesure encore plus précis.

LED extérieures

Les LED de l'anneau lumineux extérieur permettent de filtrer la lumière ambiante parasite. Cela offre des avantages tels que l’éclairage de matériaux colorés avec un contraste élevé.

Éclairage sélectif

La lampe annulaire se compose de 16 segments qui peuvent être contrôlés individuellement. Cela garantit un éclairage optimisé en fonction des propriétés de votre pièce.

Ergonomique et pratique à utiliser

ZEISS O-INSPECT duo doit non seulement répondre aux normes techniques les plus élevées en termes de qualité, de fiabilité et de rapidité, mais il doit également être sûr, ergonomique et facile à utiliser. L'excellence technique de nos composants ne prend pleinement effet que si le produit peut être utilisé facilement comme prévu. C'est pourquoi nous avons doté le ZEISS O-INSPECT duo de fonctionnalités pratiques.

Palette en option

La palette en option convient aux pièces plates et permet un transport facile ainsi qu'une fixation sécurisée sur la machine.

ZEISS webshop

Couverture avant amovible

Grâce au capot avant amovible, le ZEISS O-INSPECT duo peut être transporté facilement et confortablement jusqu'à l'endroit souhaité et positionné de manière optimale via un chariot élévateur ou un transpalette.

Support de panneau de commande

Le support du panneau de commande peut être positionné de manière flexible sur n'importe quel côté de la machine, garantissant une accessibilité et une opérabilité optimales.

CALYPSO ou ZEN core ? Les deux.

ZEISS O-INSPECT duo dispose de deux logiciels dédiés dotés de fonctions spécifiques pour les tâches de microscopie et de métrologie. Les opérateurs des domaines respectifs n'ont donc pas besoin d'apprendre un nouveau logiciel.

ZEISS CALYPSO pour un contrôle de qualité optimisé

Associées à ZEISS CALYPSO, les machines à mesurer tridimensionnelles ZEISS exploitent tout leur potentiel. Optimisez votre contrôle qualité : Le logiciel vous assiste avant, pendant et après la mesure. Mesurez et analysez vos pièces à l'aide d'une série de fonctions différentes et tirez le meilleur parti de votre machine à mesurer tridimensionnelle.

En savoir plus sur ZEISS CALYPSO

Création automatique de plans d'inspection à partir de PMI : ZEISS CALYPSO crée automatiquement des plans d'inspection basés sur des données PMI comprenant toutes les caractéristiques pertinentes.
Versionnement des différentes gammes de contrôle : vous pouvez retracer toutes vos étapes car toutes les variantes de la gamme de contrôle sont versionnées. Vous ne devez pas travailler avec plusieurs copies puisque tout est géré directement dans la gamme de contrôle.
Mise en œuvre et optimisation des stratégies de mesure : L'outil de génération intégré est utilisé pour les stratégies de mesure afin d'appliquer des stratégies de mesure spécifiques à l'entreprise ou d'optimiser vos plans d'inspection sur la base des recommandations de ZEISS.
Visualisation puissante des résultats de mesure : Avec le rapport ZEISS PiWeb, ZEISS CALYPSO offre un outil professionnel intégré pour la conception de protocoles afin de créer des visualisations significatives de vos résultats de mesure.

Microscopie multimodale et connectée avec le logiciel ZEISS : ZEN Core

ZEN core ne se limite pas à l'imagerie microscopique : Le logiciel est la suite la plus complète d'outils d'imagerie, de segmentation, d'analyse et de connectivité des données pour la microscopie multimodale dans les laboratoires de matériaux connectés. Il offre également des fonctions étendues telles que le pavage, l'assemblage (interférométrie) et la détection automatique des erreurs.

En savoir plus sur ZEISS ZEN core

Une seule interface pour tous les microscopes ZEISS : ZEN Core vous offre une interface utilisateur unifiée pour les microscopes et les caméras ZEISS. Effectuez des flux de travail multimodaux et connectez toutes les données d'imagerie et d'analyse entre les systèmes, les laboratoires et les sites.
Imagerie avancée et analyse automatisée : ZEN core est votre centre de commande pour configurer les fonctions d'imagerie, de segmentation et d'analyse automatisées des microscopes à lumière composée.
Solutions d'infrastructure pour le laboratoire connecté : ZEN core fournit l'infrastructure pour les environnements de laboratoire connectés et unifie toutes vos solutions d'imagerie et de microscopie ZEISS dans une interface utilisateur unique.

Multi-modal, connected microscopy with ZEISS ZEN core

Données techniques


Taille	8/6/3
Caméra	ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, 5 MP color camera, 2646 x 2056 pixel
Eclairage	Anneau lumineux à 16 segments avec LED blanches, lumière ascendante coaxiale et rétroéclairage
Distance de travail en mm	55
Zoom mécanique	12 x
Champ de vision max. en mm	16,1 x 12
Tête de mesure tactile compatible	ZEISS VAST XXT – TL1/TL3
Capacité	100 kg
Précision tactile et optique	1D: 1,5 μm + L/250 2D: 1,8 μm + L/250 μm 3D: 2,2 μm + L/250 μm
Logiciels	ZEISS CALYPSO (pour la métrologie) ZEISS ZEN core (pour la miscroscopie)

Exemples d'applications

Regardez les vidéos d'application et découvrez comment différentes pièces, telles que des plastiques médicaux, des plaques bipolaires ou des cartes de circuits imprimés, sont mesurées et inspectées avec ZEISS O-INSPECT duo.

Measurement and inspection of electronic components with ZEISS O-INSPECT duo

Measurement and inspection of bipolar plates with ZEISS O-INSPECT duo

Measurement and inspection of medical plastics with ZEISS O-INSPECT duo

Michael Zeller Senior Manager Test Equipment Monitoring & Measurement Technology, Zollner Elektronik AG
En microscopie, nous disposons désormais de beaucoup plus d'espace pour examiner les composants et nous n'avons plus besoin de couper les échantillons.

Regardez notre enregistrement de démonstration avec les caractéristiques, les logiciels et les meilleures pratiques.

Découvrez O-INSPECT duo en action et regardez notre webinaire sur les produits pour obtenir des informations pratiques et techniques de la part de nos chefs de produits, des démonstrations de logiciels et un premier témoignage de l'un de nos clients pilotes. Au cours de cette session, vous apprendrez comment la combinaison de la microscopie et de la métrologie dans un seul appareil améliorera vos processus de contrôle qualité.

Vous avez besoin de plus d'informations ?

Téléchargements

ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN
Page: 7
Volume de fichier: 4823 kB

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