ZEISS AICell trace

Grâce à cette technologie à traçabilité métrologique, toutes les informations numériques pertinentes sur la qualité sont fournies et tous les points de mesure et dimensions fonctionnelles pertinents pour la surveillance continue des processus sont mesurés en temps de cycle. Le plan complet de points de mesure peut être mis en œuvre par le biais de mesures en continu ou de programmes de pause. Grâce à la traçabilité métrologique et à la prise en compte des principes de mesure spécifiques au client dans la métrologie en ligne, il est désormais possible d'effectuer des mesures en série directement dans la ligne de production, ce qui n'était auparavant possible que dans la salle de mesure.

Outre la position exacte du capteur, les caméras de suivi enregistrent également leur propre position, qui peut varier en fonction des fluctuations de température. Les modules de stabilité constituent la référence spatiale fixe du système de suivi. La compensation de température permet des mesures extrêmement précises et fiables, même dans des environnements de production présentant des gradients de température élevés.

ZEISS AICell trace transforme le robot en un simple support de capteurs. Cela permet d'éliminer toutes les influences mécaniques et thermiques du robot sur le résultat de la mesure. La précision du système est indépendante de la capacité du robot à positionner le capteur avec précision.

Les résultats de la mesure sont visualisés directement après la mesure dans le logiciel ZEISS INDI connecté. L'extraction de caractéristiques dans le nuage de points peut être mise en place rapidement et est conviviale. Le logiciel peut également être utilisé pour effectuer des évaluations statistiques et configurer le plan de mesure. En association avec le capteur ZEISS AIMax cloud, il est possible d'augmenter l'efficacité et la productivité et de minimiser les coûts :

• Identification des quasi-défauts, y compris la fonction Q-Stop Fonctionnalité Q-Stop 
• Évaluation en aval des fichiers d'images pour une analyse ciblée des causes profondes
• Évaluation des courbes de mesure et des tendances par point de mesure
• Visualisation du nuage de points généré
• Affichage / visualisation de tous les résultats de mesure sur une pièce