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MEB conventionnel d'entrée de gamme

ZEISS EVO

Le microscope électronique polyvalent qui allie qualité des données et utilisation intuitive

Les instruments de la gamme ZEISS EVO combinent la microscopie électronique à balayage haute performance avec une expérience intuitive et conviviale qui séduit à la fois les experts et les nouveaux utilisateurs. Grâce à sa gamme complète d'options disponibles, ZEISS EVO s'adapte précisément à vos besoins, que vous soyez actif dans les sciences des matériaux ou dans le contrôle qualité industriel de routine et l'analyse des défaillances.

  • Solution polyvalente à usages multiples
  • Facilité d'utilisation inégalée
  • Excellente qualité d'image
  • Automatisation des flux de tâches et intégrité des données
ZEISS EVO
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ZEISS EVO pour l'industrie

Passez à la vitesse supérieure en matière d'inspection.

ZEISS EVO est le système d'entrée de gamme conventionnel qui comprend un filament à base de tungstène ou LaB6, pour les tâches d'imagerie répétables quotidiennes, par exemple l'analyse des matériaux à haute résolution, avec des flux de tâches largement automatisés et d'assistance. Le système offre une certaine souplesse pour les structures de taille moins exigeante.

Domaines d'application

  • Analyse et contrôle qualité
  • Analyse des défaillances et fractographie
  • Matérialographie
  • Inspection de la propreté
  • Analyse morphologique et chimique des particules pour répondre aux normes ISO 16232 et VDA 19, partie 1 & 2
  • Analyse des inclusions non métalliques 

ZEISS EVO : le microscope électronique polyvalent qui allie qualité des données et utilisation intuitive

Passez à la vitesse supérieure en matière d'inspection. ZEISS EVO vous offre un menu d'options de configuration pour répondre exactement à vos exigences en matière de prix et de performances. Adaptez la résolution souhaitée à votre application et choisissez parmi trois tailles de chambre.

Vous pouvez également opter pour un vide poussé, une pression variable ou une pression ambiante en fonction de votre type d'échantillon. Choisissez ensuite parmi les détecteurs SE, BSE, EDX, VP et C2D en fonction de votre application. Avec ZEISS EVO, vous bénéficiez des avantages de la microscopie électronique à un prix abordable.

Exemples d'application

  • Électronique

    Les débris et la contamination sont évidents sur la surface d'un circuit intégré. Image capturée avec le détecteur SE sous vide poussé à 10 kV.

  • Piles à combustible

    Les piles à combustible sont généralement constituées de membranes à électrolyte polymère prises en sandwich entre des électrodes en platine. Ces composants critiques doivent être imagés à basse tension pour garantir l'obtention d'informations détaillées sur la surface à haute résolution. Coupe transversale avec une source LaB6 (à gauche) et une source de tungstène (à droite) à 3 kV. La source LaB6 permet d'obtenir plus de détails sur la surface à des tensions d'accélération faibles.

  • Acier doux galvanisé

    Coupe transversale d'un acier doux galvanisé, image capturée à l'aide du détecteur SE sur ZEISS EVO 15. À gauche : résine de montage ; au centre : couche de zinc ; à droite : acier doux.

  • Analyse des matériaux par spectroscopie de rayons X (EDX)

    Images BSE de surfaces corrodées représentatives avec carte EDS : chrome, plomb, cuivre, nickel, carbonium et oxygène.

  • Analyse de défaillance sur la surface d'un roulement à billes

    La surface du roulement à billes imagée avec le détecteur BSE révèle des fissures et des écailles dans la structure de la surface.

  • Propreté technique

    Particules provenant d'un filtre à particules : analyse de la propreté technique et contrôle qualité.

Microscope électronique à balayage ZEISS EVO - 10 points forts en 90 secondes

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    Découvrez comment le microscope électronique à balayage ZEISS EVO prend en charge vos tâches d'inspection de routine et d'analyse des défaillances dans les laboratoires de qualité et de matériaux en permettant une imagerie intuitive, même pour les utilisateurs novices. Points forts d'EVO : - Imagerie haute résolution - Fonctionnement efficace - Analyse de la composition chimique - Pièces de grande taille - Acquisition d'images sur de grandes surfaces - Échantillons non conducteurs - Analyse de particules par EDX - Mesures automatisées - Segmentation intelligente des images - Corrélation et partage d'images

Autres applications dédiées à l'industrie :

  • Analyse des phases, des particules et des soudures
  • Inspection visuelle de composants électroniques, de circuits intégrés, de dispositifs MEMS et de cellules solaires
  • Étude de la surface et de la structure cristalline du fil de cuivre
  • Enquête sur la corrosion des métaux
  • Analyse des phases intermétalliques et des transitions de phase
  • Imagerie et analyse des microfissures et de la résistance à la rupture
  • Enquêtes sur les revêtements et les matériaux composites
  • Examen des cordons de soudure et des zones affectées thermiquement

Avec ZEISS EVO, nous trouvons l'aiguille dans la botte de foin.

Johannes Bachmann, est l'expert en analyse des matériaux au sein du groupe INNIO. Téléchargez le dépliant et lisez l'article complet.

Trouver l'aiguille dans la botte de foin.

Propreté technique : le groupe INNIO analyse la composition chimique des particules de saleté résiduelles à l'aide d'une solution ZEISS.

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S'il est primordial d'obtenir des résultats précis et fiables, il est tout aussi crucial de les obtenir rapidement.

déclare Thomas Schaupp, responsable de laboratoire au sein du laboratoire de matériaux accrédité SPC. Découvrez comment ZEISS EVO et la microscopie corrélative de ZEISS aident le laboratoire d'essais à obtenir des résultats 30 % plus rapides. Téléchargez le dépliant et lisez l'article complet.

Applications dédiées à la microscopie pour le contrôle qualité :

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