ZEISS GeminiSEM
Le leader de sa catégorie en matière de flexibilité d'échantillonnage
Découvrez l'inconnu et répondez aux exigences les plus strictes en matière d'imagerie sub-nanométrique, d'analyse et de flexibilité des échantillons avec un MEB à émission de champ. Le système permet une analyse à haut débit tout en offrant une excellente résolution à basse tension, à grande vitesse et à un courant de palpeur élevé.
ZEISS GeminiSEM pour l'industrie
Faites l'expérience d'une nouvelle qualité dans l'inspection de vos échantillons.
Le système permet une analyse à haut débit tout en offrant une excellente résolution à basse tension d'accélération, à grande vitesse et à un courant de sonde élevé. Son champ de vision généreux et sa chambre extrêmement spacieuse permettent désormais d'examiner de très grands échantillons.
ZEISS GeminiSEM offre une caractérisation efficace de la composition chimique et de l'orientation des cristaux grâce à deux ports EDS diamétralement opposés et à une configuration EDS/EBSD coplanaire. Faites confiance à la cartographie sans ombre à grande vitesse.
Configurez et automatisez vos flux de tâches : Vous devez tester des matériaux jusqu'à leurs limites techniques ? ZEISS met à votre disposition un laboratoire automatisé de chauffage et de contraintes mécaniques in situ.
Les domaines d'application en un coup d'œil
- Analyse des défaillances des composants mécaniques, optiques et électroniques
- Analyse des fractures et métallographie
- Caractérisation de la surface, de la microstructure et du dispositif
- Répartition de la composition et des phases
- Qualification des impuretés et des inclusions