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ZEISS Sigma
Accès à une imagerie et à des analyses fiables à haute résolution
ZEISS Sigma est basé sur la technologie éprouvée ZEISS Gemini. La conception de la lentille de l'objectif Gemini combine les champs électrostatiques et magnétiques pour maximiser les performances optiques tout en réduisant au minimum les influences du champ sur l'échantillon. Cela permet d'obtenir une excellente imagerie, même sur des échantillons difficiles tels que les matériaux magnétiques.
ZEISS Sigma pour l'industrie
Faites l'expérience d'un nouveau niveau de qualité lorsque vous testez vos échantillons
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Le concept de détection dans l'objectif Gemini garantit une détection efficace du signal en détectant les électrons secondaires (SE) et/ou rétrodiffusés (BSE), réduisant ainsi au minimum le temps nécessaire pour obtenir une image. La technologie des amplificateurs de faisceau Gemini garantit des sondes de petite taille et des rapports signal/bruit élevés.
Vous pouvez caractériser tous vos échantillons à l'aide des dernières technologies de détection. Recueillir des informations topographiques à haute résolution avec le nouveau détecteur ETSE et le détecteur InLens en mode vide poussé. Obtenez des images nettes en mode de pression variable avec le détecteur VPSE ou C2D. Produire des images de transmission à haute résolution avec le détecteur STEM. Examinez la composition à l'aide du détecteur HDBSD ou du détecteur YAG.
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Les champs d'application en un coup d'œil
- Analyse des défaillances des matériaux et des composants fabriqués
- Imagerie et analyse des aciers et des métaux
- Inspection des dispositifs médicaux
- Caractérisation des semi-conducteurs et des dispositifs électroniques pour le contrôle et le diagnostic des processus
- Imagerie et analyse à haute résolution de nouveaux nanomatériaux
- Analyse des revêtements et des couches minces
- Caractérisation de diverses formes de carbone et d'autres matériaux 2D
- Imagerie, analyse et différenciation des matériaux polymères
- Effectuer des recherches sur les batteries pour comprendre les effets du vieillissement et les améliorations de la qualité
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ZEISS SmartPI
ZEISS SmartPI a été conçu pour l'analyse reproductible et en grand volume d'échantillons de routine dans un environnement de production. La possibilité d'identifier, d'analyser et de communiquer les données relatives à la contamination ajoute une nouvelle dimension au contrôle des processus. Bénéficiez d'améliorations significatives dans l'analyse et la classification entièrement automatisées des particules SEM. Laissez ZEISS SmartPI augmenter votre productivité, accroître votre qualité et réduire votre coût de contamination. Détecte, mesure, compte et classe automatiquement les particules d'intérêt en fonction de leur morphologie et de leur composition élémentaire.
Les rapports normalisés de l'industrie sont générés automatiquement, tels que VDA 19.1 & ISO 16232
Entièrement intégré et compatible avec les systèmes EDS Bruker & Oxford