Sem d'émission de champ

ZEISS Sigma

Accès à une imagerie et à des analyses fiables à haute résolution

ZEISS Sigma est basé sur la technologie éprouvée ZEISS Gemini. La conception de la lentille de l'objectif Gemini combine les champs électrostatiques et magnétiques pour maximiser les performances optiques tout en réduisant au minimum les influences du champ sur l'échantillon. Cela permet d'obtenir une excellente imagerie, même sur des échantillons difficiles tels que les matériaux magnétiques.

  • Résultats précis et reproductibles à partir de n'importe quel échantillon
  • Mise en place rapide et facile de l'expérience
  • Basé sur la technologie éprouvée de Gemini
  • Détection flexible pour des images claires
  • Sigma 560 présente la meilleure géométrie EDS de sa catégorie

ZEISS Sigma pour l'industrie

Faites l'expérience d'un nouveau niveau de qualité lorsque vous testez vos échantillons

Le concept de détection dans l'objectif Gemini garantit une détection efficace du signal en détectant les électrons secondaires (SE) et/ou rétrodiffusés (BSE), réduisant ainsi au minimum le temps nécessaire pour obtenir une image. La technologie des amplificateurs de faisceau Gemini garantit des sondes de petite taille et des rapports signal/bruit élevés.

Vous pouvez caractériser tous vos échantillons à l'aide des dernières technologies de détection. Recueillir des informations topographiques à haute résolution avec le nouveau détecteur ETSE et le détecteur InLens en mode vide poussé. Obtenez des images nettes en mode de pression variable avec le détecteur VPSE ou C2D. Produire des images de transmission à haute résolution avec le détecteur STEM. Examinez la composition à l'aide du détecteur HDBSD ou du détecteur YAG.

Les champs d'application en un coup d'œil

  • Analyse des défaillances des matériaux et des composants fabriqués
  • Imagerie et analyse des aciers et des métaux
  • Inspection des dispositifs médicaux
  • Caractérisation des semi-conducteurs et des dispositifs électroniques pour le contrôle et le diagnostic des processus
  • Imagerie et analyse à haute résolution de nouveaux nanomatériaux
  • Analyse des revêtements et des couches minces
  • Caractérisation de diverses formes de carbone et d'autres matériaux 2D
  • Imagerie, analyse et différenciation des matériaux polymères
  • Effectuer des recherches sur les batteries pour comprendre les effets du vieillissement et les améliorations de la qualité

Analyse automatisée des particules & imagerie corrélative multimodale

  • Analyse corrélative automatique des particules

    De la propreté de fabrication et de la prédiction de l'usure des moteurs à la production d'acier, en passant par la gestion de l'environnement et la fabrication additive, les solutions d'analyse des particules avec un microscope électronique de ZEISS automatisent vos flux de travail et augmentent la reproductibilité.

    Analyse corrélée de la microscopie optique et de la microscopie électronique dans un flux de travail intégré et transparent

    • Rapports LM/EM intégrés et automatiques
    • Identifiez les sources de contamination
    • Prendre plus rapidement des décisions éclairées
    • Améliorer en permanence la qualité de la production
    • Résultats plus rapides : analyse automatisée au lieu d'analyses individuelles continues, inspection et test des particules plus rapides grâce à des algorithmes d'apprentissage automatique intégrés

     

  • Imagerie corrélative multimodale de l'analyse des particules de microplastiques

    ZEISS ZEN Intellesis permet l'identification des particules grâce à l'apprentissage automatique. Les résultats sont accessibles via le puissant logiciel ZEISS ZEN Connect. ZEISS ZEN Intellesis fournit ensuite des informations supplémentaires sur la distribution des particules en se basant sur la segmentation des images par apprentissage automatique et la classification des objets.

  • La corrélation de ces deux méthodes microscopiques, SEM et Raman, est utilisée pour générer un maximum d'informations lors de l'analyse - en particulier pour les particules de polymère. ZEN Connect sert à superposer Raman pour l'analyse de base et ZEN Intellesis pour la classification automatisée. L'outil de reporting permet de créer automatiquement des rapports dans ZEN core sur la base de modèles et de les enregistrer au format pdf ou doc (4).

    La corrélation de ces deux méthodes microscopiques, SEM et Raman, est utilisée pour générer un maximum d'informations lors de l'analyse - en particulier pour les particules de polymère. ZEN Connect sert à superposer Raman pour l'analyse de base et ZEN Intellesis pour la classification automatisée. L'outil de reporting permet de créer automatiquement des rapports dans ZEN core sur la base de modèles et de les enregistrer au format pdf ou doc (4).

    Pour une image MEB (1), l'analyse d'image est utilisée pour segmenter toutes les particules (2) et mesurer les caractéristiques choisies. Les mesures peuvent être affichées sous forme de distribution de taille, par exemple. La classification des objets Intellesis est utilisée pour classifier davantage les particules segmentées et les classer dans leurs sous-types (3). Le nombre de particules par type peut être calculé à l'aide de ces informations. La classification des objets est effectuée pour les nano- et microparticules plastiques standard (polystyrène (PS, bleu clair), polyéthylène (PE, vert), polyamide-nylon 6 (PA, bleu foncé) et chlorure de polyvinyle (PVC, rouge)) sur un filtre en polycarbonate imagé avec ZEISS Sigma. Cette étude corrélative combine la haute résolution d'un microscope électronique avec les capacités analytiques d'un microscope Raman.

ZEISS SmartPI

ZEISS SmartPI a été conçu pour l'analyse reproductible et en grand volume d'échantillons de routine dans un environnement de production. La possibilité d'identifier, d'analyser et de communiquer les données relatives à la contamination ajoute une nouvelle dimension au contrôle des processus. Bénéficiez d'améliorations significatives dans l'analyse et la classification entièrement automatisées des particules SEM. Laissez ZEISS SmartPI augmenter votre productivité, accroître votre qualité et réduire votre coût de contamination. Détecte, mesure, compte et classe automatiquement les particules d'intérêt en fonction de leur morphologie et de leur composition élémentaire.

Les rapports normalisés de l'industrie sont générés automatiquement, tels que VDA 19.1 & ISO 16232

Entièrement intégré et compatible avec les systèmes EDS Bruker & Oxford

Pour en savoir plus, consultez nos vidéos sur ZEISS Sigma

  • L'évolution de l'optique ZEISS Gemini

    Technologie ZEISS Gemini pour l'industrie. ZEISS propose la bonne solution pour chaque application. Regardez la vidéo pour découvrir le développement et les avantages de la technologie Gemini.

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