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ZEISS O-INSPECT duo

ZEISS O-INSPECT duo

Microscope et machine à mesurer en un seul appareil.

ZEISS O-INSPECT duo offre deux technologies en une seule machine : les grandes pièces telles que les circuits imprimés, les piles à combustible ou les batteries peuvent être à la fois mesurées et inspectées en haute résolution dans leur intégralité. La combinaison de la technologie de mesure 3D et de l'inspection microscopique permet d'accroître l'efficacité et de gagner de la place dans les laboratoires de qualité. ZEISS O-INSPECT duo est disponible dans la taille 8/6/3.

  • 2 en 1 : Microscope et machine à mesurer en un seul appareil
  • Mesures 3D rapides et précises - optiques et tactiles
  • Optique haute résolution avec logiciel d'inspection supplémentaire ZEISS ZEN core
O-INSPECT duo
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Premier système multitechnologique de ZEISS

En tant que microscope VMM, ZEISS O-INSPECT duo couvre deux applications essentielles du contrôle qualité : Mesure précise et inspection à haute résolution de grands ou de nombreux petits composants. L'appareil a également été spécialement conçu pour les applications nécessitant une combinaison de mesures dimensionnelles et d'inspection - y compris la segmentation, l'assemblage et le traitement d'images en couleur. Au lieu de devoir acquérir à la fois une VMM et un microscope, un seul appareil est nécessaire dans les laboratoires de qualité, ce qui permet d'économiser de l'espace et de réduire les coûts du système. Découvrez d'autres avantages de l'appareil multifonctionnel pour les différents domaines.
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Métrologie
Microsocopie
Mesures précises - optiques et tactiles
MÉTROLOGIE

Mesures précises - optiques et tactiles

Haute précision pour les pièces plates et sensibles

ZEISS O-INSPECT duo est une machine de mesure multisensorielle qui impressionne par son optique haute résolution associée au capteur de balayage tactile ZEISS VAST XXT. Le capteur permet des mesures 3D rapides et précises en capturant un grand nombre de points de mesure en un seul mouvement.

Les pièces très petites ou sensibles peuvent être mesurées sans contact et avec une excellente précision ainsi qu'une réduction significative du temps de mesure grâce au palpage ZEISS VAST (ZVP). Cela est possible grâce au grand champ de vision avec une résolution d'image élevée et une fidélité d'image exceptionnelle, même dans les zones périphériques.

Inspection et mesure des surfaces sur une seule machine
MÉTROLOGIE

Inspection et mesure des surfaces sur une seule machine

VMM aujourd'hui, microscope demain

Outre la mesure des dimensions, de nombreuses pièces doivent également faire l'objet d'un contrôle de surface. Alors qu'auparavant deux appareils distincts étaient utilisés pour la mesure et l'inspection, ZEISS O-INSPECT duo offre désormais une solution 2 en 1. Grâce à l'utilisation intuitive de l'appareil et au capteur de caméra couleur haute résolution de 5 MP Discovery.V12 scout 160 c avec zoom 12x, les tâches d'inspection peuvent désormais également être couvertes sur l'appareil de mesure. En plus de l'utilisation habituelle avec ZEISS CALYPSO, la machine peut également être utilisée pour des tâches de microscopie avec le logiciel ZEISS ZEN core.

Notre plus grand microscope
MICROSCOPIE

Notre plus grand microscope

Inspection de grandes pièces dans leur ensemble

Le découpage des composants appartient au passé : L'inspection optique de grandes pièces telles que des PCB, des piles à combustible ou des batteries est désormais possible dans son intégralité. Cela permet d'économiser des ressources et un temps précieux et de réduire les sources d'erreur dues au déplacement de pièces fragmentées entre différents systèmes.

Outre l'inspection de grandes pièces, ZEISS O-INSPECT duo est également adapté à l'inspection automatisée de nombreuses petites pièces. Cela signifie que le microscope de mesure ne doit être chargé qu'une seule fois - l'inspection elle-même est alors effectuée en une seule étape sans changer les échantillons individuels.

Appareil photo couleur haute résolution de 5 MP
MICROSCOPIE

Appareil photo couleur haute résolution de 5 MP

Détecter les défauts avec précision

Alors que les images en noir et blanc offrent des différences de contraste importantes dans la technologie de mesure, les images en couleur offrent un avantage dans l'analyse microscopique : Avec une résolution d'image de 5 mégapixels en couleur, même les petits défauts sont clairement représentés et permettent une inspection et une évaluation précises. ZEISS O-INSPECT duo peut être utilisé avec le logiciel de microscopie ZEISS ZEN core.

Cliquez sur les marqueurs circulaires de l'image pour ouvrir la boîte d'information avec plus de détails.

Découvrez les détails
Découvrez les caractéristiques du ZEISS O-INSPECT duo
Grand champ de vision avec haute définition d'image

Le capteur de la caméra ZEISS Discovery.V12 scout 160 c de 5 MP assure une haute résolution et permet de visualiser les plus petits détails et structures grâce au zoom 12x. Le grand champ de vision de 16,1 x 12 mm permet d'afficher plus d'informations par image. La caméra couleur permet une analyse microscopique précise et garantit en même temps des résultats précis et constants en métrologie grâce à la haute résolution de 5 MP.
Éclairage

L'anneau lumineux est composé d'un anneau extérieur et d'un anneau intérieur avec des LED blanches qui peuvent être contrôlées individuellement en 16 segments. L'appareil dispose également d'un éclairage et d'un rétro-éclairage coaxiaux, ce qui permet d'analyser une grande variété d'applications et de pièces.
Mesures tactiles 3D rapides et précises

ZEISS VAST XXT permet un balayage de haute précision en capturant un grand nombre de points de mesure en un seul mouvement, offrant une précision de 1,5 µm + L/250 µm.
Grande scène

La platine de 800 x 600 x 300 mm permet de mesurer et d'inspecter de grandes pièces pesant jusqu'à 100 kg, sans avoir à les couper, les détruire ou les usiner avant la mesure. Il est également possible d'inspecter automatiquement plusieurs petites pièces grâce à la grande platine.
2 produits logiciels

ZEISS CALYPSO offre des options de visualisation améliorées pour vous faire gagner du temps. Les modèles CAO peuvent être affichés en surimpression et les écarts éventuels (entre la réalité et la cible) peuvent être rapidement identifiés. Grâce à une grande variété d'options, ZEISS CALYPSO propose également des outils adaptés aux exigences particulières. Le ZEISS ZEN core est le pendant de la microscopie : Outre l'imagerie classique, la suite logicielle comprend également des outils d'imagerie, de segmentation, d'analyse et de connectivité des données pour la microscopie multimodale dans des environnements de laboratoire et de production connectés.
Des rapports professionnels et exploitables

ZEISS PiWeb reporting offre une documentation et une visualisation en un clic de vos données de mesure, ce qui vous permet d'obtenir des informations utiles sur vos pièces et vos processus.

Contrastes optimaux

Outre l'éclairage ascendant et le rétroéclairage coaxiaux, ZEISS O-INSPECT duo propose également diverses options de contrôle pour la lumière annulaire. Les anneaux LED intérieurs et extérieurs peuvent être allumés et éteints séparément ou activés uniquement dans des segments individuels.
Analyse des membranes, des compositions, des joints, des revêtements et des matériaux solides

LED internes et externes

L'anneau lumineux est composé de LED intérieures et extérieures de couleur blanche. La combinaison des LED intérieures et extérieures permet d'obtenir un éclairage maximal de la pièce à travailler.

LED internes

LED internes

La lumière de l'anneau intérieur augmente les contrastes dans la texture de la surface, ce qui permet des améliorations telles qu'une meilleure mise au point - pour des résultats de mesure encore plus précis.

LED extérieures

Cadre cellulaire

Les LED de l'anneau lumineux extérieur permettent de filtrer les interférences de la lumière ambiante. Cela permet notamment d'éclairer des matériaux colorés avec un contraste élevé.

Éclairage sectoriel

Éclairage sectoriel

L'anneau lumineux se compose de 16 segments qui peuvent être contrôlés individuellement. Cela permet d'optimiser l'éclairage en fonction des propriétés de votre pièce.

Ergonomique et pratique à utiliser

ZEISS O-INSPECT duo ne doit pas seulement répondre aux normes techniques les plus élevées en termes de qualité, de fiabilité et de rapidité - il doit également être sûr, ergonomique et facile à utiliser. L'excellence technique de nos composants ne prend tout son sens que si le produit peut être facilement utilisé comme prévu. C'est pourquoi nous avons doté ZEISS O-INSPECT duo de fonctions utiles.
Palette optionnelle

Palette optionnelle

La palette optionnelle convient aux pièces plates et permet un transport aisé ainsi qu'une fixation sûre sur la machine.

Couvercle avant amovible

Couvercle avant amovible

Grâce au couvercle frontal amovible, ZEISS O-INSPECT duo peut être transporté facilement et confortablement à l'endroit souhaité et positionné de manière optimale via un chariot élévateur.

Support du panneau de contrôle

Support du panneau de contrôle

Le support du panneau de commande peut être positionné de manière flexible sur n'importe quel côté de la machine, ce qui garantit une accessibilité et une opérabilité optimales.

CALYPSO ou ZEN core ? Les deux.

ZEISS O-INSPECT duo dispose de deux logiciels dédiés avec des fonctions spécifiques pour les tâches de microscopie et de métrologie. Les opérateurs des différents domaines n'ont donc pas besoin d'apprendre un nouveau logiciel.
ZEISS CALYPSO pour un contrôle qualité optimisé

ZEISS CALYPSO pour un contrôle qualité optimisé

Associées à ZEISS CALYPSO, les machines à mesurer tridimensionnelles ZEISS exploitent tout leur potentiel. Optimisez votre contrôle qualité : Le logiciel vous assiste avant, pendant et après la mesure. Mesurez et analysez vos pièces à l'aide d'une série de fonctions différentes et tirez le meilleur parti de votre machine à mesurer tridimensionnelle.

    • Création automatique de plans d'inspection à partir de PMI : ZEISS CALYPSO crée automatiquement des plans d'inspection basés sur les données PMI, y compris toutes les caractéristiques pertinentes.
    • Versioning des différents plans d'inspection : Vous pouvez retracer toutes vos étapes, car toutes les variantes de la gamme de contrôle sont enregistrées sous forme de versions. Vous ne devez pas travailler avec plusieurs copies puisque tout est géré directement dans la gamme de contrôle.
    • Mise en œuvre et optimisation des stratégies de mesure : L'outil de génération intégré permet d'appliquer des stratégies de mesure spécifiques à l'entreprise ou d'optimiser vos plans d'inspection sur la base des recommandations de ZEISS.
    • Visualisation puissante des résultats de mesure : Avec ZEISS PiWeb reporting, ZEISS CALYPSO offre un outil professionnel intégré pour la conception de protocoles afin de créer des visualisations significatives de vos résultats de mesure.
    Microscopie multimodale et connectée avec ZEISS ZEN core

    Microscopie multimodale et connectée avec ZEISS ZEN core

    Le ZEN core ne se limite pas à l'imagerie microscopique : Le logiciel est la suite la plus complète d'outils d'imagerie, de segmentation, d'analyse et de connectivité des données pour la microscopie multimodale dans les laboratoires de matériaux connectés. Il offre également des fonctions étendues telles que le pavage, l'assemblage (interférométrie) et la détection automatique des erreurs.

      • Une seule interface pour tous les microscopes ZEISS : ZEN core vous offre une interface utilisateur unifiée pour les microscopes et les appareils photo ZEISS. Effectuer des flux de travail multimodaux et connecter toutes les données d'imagerie et d'analyse entre les systèmes, les laboratoires et les sites.
      • Imagerie avancée et analyse automatisée : ZEN core est votre centre de commande pour la mise en place de fonctions automatisées d'imagerie, de segmentation et d'analyse des microscopes à lumière composée.
      • Solutions d'infrastructure pour le laboratoire connecté : ZEN core fournit l'infrastructure pour les environnements de laboratoire connectés et unifie toutes vos solutions d'imagerie et de microscopie ZEISS dans une interface utilisateur unique.

      Détails techniques

      Taille

      8/6/3

      Caméra

      ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, caméra couleur de 5 MP, 2646 x 2056 pixel

      Éclairage

      anneau lumineux à 16 segments avec LED blanches, lumière ascendante coaxiale et rétroéclairage

      Distance de travail en mm

      55

      Zoom mécanique

      12 x

      Champ de vision max. en mm

      16,1 x 12

      Tête de palpage tactile compatible

      ZEISS VAST XXT - TL1/TL3

      Capacité

      100 kg

      Précision tactile et optique

      1D : 1,5 μm + L/250

      2D : 1,8 μm + L/250 μm

      3D : 2,2 μm + L/250 μm

      Logiciel

      ZEISS CALYPSO (pour la métrologie)

      ZEISS ZEN core (pour la microscopie)

      Exemples d'application

      Regardez les vidéos d'application et découvrez comment différentes pièces, telles que des plastiques médicaux, des plaques bipolaires ou des cartes de circuits imprimés, sont mesurées et inspectées avec ZEISS O-INSPECT duo.

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        Mesure et inspection des composants électroniques avec ZEISS O-INSPECT duo

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        Mesure et inspection des plaques bipolaires avec ZEISS O-INSPECT duo

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        Mesure et inspection des plastiques médicaux avec ZEISS O-INSPECT duo
      Michael Zeller

      En microscopie, nous disposons désormais de beaucoup plus d'espace pour examiner les composants et nous n'avons plus besoin de couper les échantillons

      Michael Zeller Senior Manager Test Equipment Monitoring & Measurement Technology, Zollner Elektronik AG

      Regardez notre enregistrement de démonstration avec les caractéristiques, les logiciels et les meilleures pratiques

      Découvrez le duo O-INSPECT en action et assistez à notre webinaire sur les produits pour obtenir des informations intéressantes de la part de nos chefs de produit, des démonstrations de logiciels et une première déclaration de l'un de nos clients pilotes. Dans cette session, vous apprendrez comment la combinaison de la microscopie et de la métrologie dans un seul appareil améliorera vos processus de contrôle qualité.

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