ZEISS ZEN core

En fonction des paramètres de traitement et de la composition chimique des matériaux, les particules de graphite dans la fonte peuvent apparaître dans des formes et des distributions différentes, ce qui influence les propriétés mécaniques des matériaux.

Effectuez une analyse entièrement automatisée de la forme et de la taille des particules de graphite. Obtenez les caractéristiques sphéroïdales conformément à la norme DIN EN ISO 945 (2019). Déterminez la nodularité du graphite vermiculaire et examinez le contenu des particules de graphite en pourcentage de la zone.

La taille et la répartition du grain sont directement liées aux propriétés des matériaux. Quantifiez la structure cristallographique de vos échantillons matérialographiques conformément aux normes internationales. Trois méthodes d'évaluation existent pour définir vos matériaux :

• Méthode planimétrique pour la reconstruction automatique de la limite du grain.
• Méthode par interception avec différents modèles pour reconnaître et compter de manière interactive les intersections avec les limites du grain.
• Méthode comparative pour une évaluation manuelle de l'image à l'aide de diagrammes comparatifs.

Toute partie de matériau présentant une structure cristalline distincte peut être considérée comme une phase. Les différentes phases sont séparées les unes des autres par des limites distinctes. La distribution et l'orientation des phases influencent les propriétés du matériau comme la dureté, la rigidité ou l'allongement à la rupture.

Analysez la distribution de phase dans vos échantillons. Déterminez la taille, la forme ou l'orientation avec précision et de manière entièrement automatique. Utilisez l'analyse de la distribution pour obtenir des informations sur la porosité des matériaux fabriqués de manières additives.

Mesure de l'épaisseur des revêtements et des placages, ou de la profondeur des surfaces durcies dans la coupe transversale d'un échantillon.

Évaluation des systèmes complexes de couches de manière automatique ou interactive. Le module calcule le parcours des cordes de mesure en fonction du gradient présent.

Obtenez les résultats de votre section dans un rapport clair avec des images, des données d'échantillon et des valeurs de mesure, telles que les longueurs minimales et maximales, la moyenne et la déviation standard.

L'analyse métallographique des NMI est régie par des normes industrielles prises en charge par le logiciel ZEN core. Ce logiciel modulaire et personnalisable guide l'utilisateur rapidement et facilement à travers le processus, en générant un rapport et une galerie d'inclusions conformes aux normes.

Les vues d'inspection et les fonctions de détection automatique des axes de déformation rendent l'analyse facile, intuitive et reproductible. La fonctionnalité GxP supplémentaire permet aux utilisateurs de ZEN core d'offrir à leurs clients une traçabilité et une intégrité des données complètes dans les analyses NMI. Dès lors, la certification de la classe est vérifiable, ce qui constitue un avantage précieux pour les clients des industries réglementées.

Obtenez vos tableaux sous forme numérique. Comparez votre échantillon sous le microscope avec des diagrammes comparatifs directement à l'écran.

Choisissez entre différents micrographes schématiques avec des caractéristiques spécifiques. Celles-ci changent progressivement d'une image à l'autre et peuvent se rapporter à la taille de grain, à la précipitation de carbure dans l'acier ou à la qualité de la préparation d'un échantillon.

Le module propose également une fonction de création de séries de graphiques pour concevoir vos propres diagrammes comparatifs, p. ex. pour le critère de réussite ou d'échec du contrôle de qualité ou les meilleures images de préparation cible pour vos microstructures de matériaux.

La segmentation est l'un des plus grands défis que rencontrent actuellement les microscopistes. Grâce à la segmentation des images par apprentissage automatique, vous évitez les erreurs et l'influence des biais d'utilisateurs. ZEN Intellesis est votre module logiciel pour la segmentation par apprentissage automatique d'images multidimensionnelles, y compris des ensembles de données 3D. Vous intégrez facilement plusieurs modalités d'imagerie ou réalisez une segmentation supérieure sur n'importe quelle image.

Les images qui devaient être traitées manuellement auparavant peuvent désormais être analysées automatiquement, en « apprenant » à ZEN Intellesis à les segmenter pour vous, grâce à l'interface graphique simple. Utilisez votre expertise pour former le logiciel et laissez ZEN Intellesis procéder à l'étape fastidieuse de segmentation.

Vous gagnez également du temps dans la préparation des échantillons, car ZEN Intellesis s'adapte à votre préparation d'échantillon. La reproductibilité est garantie puisque le programme d'analyse stocké peut être réutilisé échantillon par échantillon, ou réentrainé pour la manipulation de nouveaux échantillons.

Organisez et visualisez différentes images et données de microscopie d'un même échantillon dans leur contexte via une seule interface. Pour l'analyse centrée sur l'échantillon, les processus de ZEN Connect vous permettent de passer d'une image d'ensemble rapide à une imagerie avancée avec des modalités multiples. Les corrélations entre les images à différentes échelles peuvent être visualisées et facilement parcourues. Les interdépendances des différents ensembles de données peuvent être stockées, exportées et réutilisées dans une base de données client-serveur. ZEN Connect permet également d'établir un rapport intégré à travers les images, vidéos et ensembles de données connectés.

Le module GxP assure la traçabilité des processus à travers des logiciels et matériels de microscopie intégrés pour répondre aux exigences des industries réglementées. Chaque processus disponible dans ZEN core est compatible avec le module GxP.

• Gestion des utilisateurs
• Piste d'audit
• Procédure de validation des workflows
• Signatures électroniques, incl. fonctionnalité de contreseing
• Protection des sommes de contrôle des données critiques
• Reprise après sinistre

Avec l'interface de microscopie corrélative ZEISS, transférez sans difficulté des échantillons entre différents microscopes optiques et/ou électroniques, puis repositionnez automatiquement l'observation sur les régions d'intérêt afin de collecter un maximum de données pertinentes avec un minimum d'efforts.

Shuttle & Find permet de :

• transférer des échantillons et des données d'images entre les systèmes de microscopes optiques et électroniques ZEISS ;
• repositionner les régions d'intérêt automatiquement ;
• améliorer l'efficacité et le rendement ;
• collecter un maximum d'informations pertinentes ;
• prendre des décisions éclairées concernant le matériau.

Alors que la numérisation continue d'améliorer les examens microscopiques, vous êtes confrontés à une masse toujours croissante d'images et de données à gérer, notamment dans des laboratoires multi-utilisateurs. ZEN Data Storage vous permet de séparer l'acquisition d'images et de données des travaux de post-acquisition, améliorant l'efficacité de tous les membres du laboratoire, de diverses manières :

• Partagez facilement les préréglages d'instruments, les workflows, les données et les rapports.
• Accédez à toutes les données de différents systèmes et sites.
• Vos analyses sont de qualité garantie et reproductibles.
• Effectuez des workflows multimodaux et récoltez un maximum d'informations à partir de vos échantillons.
• Aidez votre service informatique à mettre en œuvre la sécurité et les sauvegardes.