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Techday Métrologie & Tomographie
ZEISS Quality Excellence Center | Neuville-sur-Oise
Le contrôle qualité ZEISS au service des industriels
Mardi 11 juillet 2023 à Neuville-sur-Oise
Inauguré en 2022, notre ZEISS Quality Excellence Center de Neuville-sur-Oise (95) est fin prêt à vous accueillir pour une journée technique Métrologie qui aura lieu le mardi 11 juillet 2023 !
▶ Vous recherchez des solutions de contrôle qualité pour vos process de R&D et de production ?
▶ Vous avez besoin de vous perfectionner sur votre machine de mesure ou sur vos logiciels ZEISS ?
▶ Ou juste pour faire de la veille technologique ? Cette journée est faite pour vous !
En effet, ce laboratoire exceptionnel dispose de 3 tomographes à rayons X différents (Bosello pour la production et l'inspection automatisée / un micro-tomographe par microscopie à rayons X et un micro-tomographe raccordé à la chaîne de métrologie), 2 machines de mesures tridimensionnelles à portique, 2 machines de mesures optiques ZEISS, 1 cellule de mesure robotisée et un scanner 3D GOM.
Nos experts seront présents pour vous toute la journée afin de répondre à vos questions et vous accompagner dans la réalisation de vos projets.
Cet évènement composé de différents ateliers techniques en rotation sera l'occasion pour vous de découvrir ces différentes technologies de mesure avec des cas d'application dédiés notamment aux industries médicale, automobile et aéronautique & spatiale.
Inscrivez-vous dès maintenant via le formulaire d'inscription ci-dessous.
Programme de la journée technique
Ateliers techniques et moments d'échanges
Mardi 11 juillet 2023
Matin
8h30 - 9h00 |
Accueil café |
9h00 - 9h15 |
Introduction au techday |
9h15 - 12h10 : Ateliers par groupe - Rotation toutes les 40 minutes |
|
Atelier multicapteurs sur MMT à portique |
ZEISS PRISMO avec le capteur de rugosité ZEISS Rotos et le ZEISS Articulating Stylus > exemple sur un rotor |
Atelier solutions MMT |
ZEISS Contura avec capteur laser ZEISS LineScan et à |
10h35 - 10h50 |
Pause autour d'un café |
Atelier solutions mesure optique & multicapteurs |
Différences entre les systèmes ZEISS O-Inspect / ZEISS O-Detect > exemple sur des pièces aéronautiques et NEV |
Atelier solutions d'ingénierie |
Posages, maquettes de contrôle et solutions d'automatisation |
12h10 - 13h40 |
Déjeuner |
Mardi 11 juillet 2023
Après-midi
13h40 - 16h35 : Suite des ateliers par groupe - Rotation toutes les 40 minutes |
|
Atelier tomographie à haute résolution |
avec le microscope à rayons X ZEISS Xradia 620 |
Atelier inspection par rayons X en production ou en laboratoire |
avec le ZEISS Bosello et le ZEISS METROTOM 6 scout |
15h00 - 15h15 |
Pause autour d'un café |
Atelier intelligence logicielle |
Création de plans de contrôle en automatique ou hors ligne (ZEISS Calypso PMI-PHM - Simulation) - logiciel SPC ZEISS PiWeb |
Atelier scanners 3D |
Scanner optique 3D GOM avec logiciels Gom Inspect et ZEISS Blade inspect |
16h35 - 16h45 |
Conclusion et fin du techday |
Formulaire d'inscription
Merci de votre intérêt pour notre évènement. Nous vous confirmons votre inscription à notre journée technique qui aura lieu le 11 juillet 2023 à Neuville sur Oise.
Comment venir ?
ZEISS Quality Excellence Center | Neuville-sur-Oise
ZEISS Quality Excellence Center | Neuville-sur-Oise
7 Mail Gay Lussac, 95000 Neuville-sur-Oise
À 2 minutes à pieds de la gare RER Neuville-Université
Itinéraire